製品概要

• 陽電子によりサブナノメートルサイズ（原子レベル）の微小欠陥・空隙評価が可能な手法です
• 陽電子寿命測定法は、陽電子によりサブナノメートルサイズ（原子レベル）の微小欠陥・空隙評価が可能な手法です。

 

本装置 用途例

•  ショットピーニングの品質確認
• 金属疲労損傷の評価

適用対象

•  鉄鋼、アルミ、チタンなどの各種金属
•  ガラス、高分子などの非晶質材料
•  測定深さは表面から50μm程度（スチール材）

※産業技術総合研究所と共同開発

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陽電子寿命法の原理

図1は金属材料中に陽電子が入射してから消滅するまでの模式図です。
陽電子寿命測定法は、陽電子発生時に放出されるγ線と電子との対消滅の際に発生するγ線の時間差（陽電子寿命）を正確に測定する技術です。
陽電子寿命は、材料内の空孔欠陥が多い場合や転位密度が高いほど長くなります。

 

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ユーザーフレンドリーな測定システム

• アンチコインシデンス（AC）システム

試料と反対側に放出した陽電子の信号を弁別するアンチ・コインシデンス（AC）システムを開発しました。¹⁾ (図.1)
ACシステムを採用することにより、線源を測定試料でサンドイッチすること無く陽電子寿命測定が可能です。そのため、試験片が一枚しか無い場合でも測定が可能です。また、煩わしい放射線源の取り扱いからも解放され安全に使用できます。
¹⁾ M.Yamawaki et.al. JJAP 50 (2011) 086301

 

 

• 自動セットアップシステム
  プログラム上で測定に必要な設定を自動で行います。セットアップ完了後、すぐに測定を開始でき、ラフな解析まで自動で行えます。

 

• 規制値以下の密封線源を使用
  放射線障害防止法の規制値以下の線源を利用します。一般の実験室内で装置を使用でき、資格も不要です。

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共通仕様

陽電子源	Na-22 (~ 1 MBq)
測定レンジ	40 ns　(金属・半導体・高分子に対応)
付属機器	・デジタルオシロスコープ ・専用プログラム ・ノートPC 等 （＊ポータブルTypeL-Pについては、ノートPCはオプションとなります）

• オートサンプラー TypeL-ⅡAS

 

・本体寸法 W490 × L490 × H350 [mm] ※付属機器は除く ・試料ホルダー数:4個 or 8個（50 × 50 [mm]） ・重量約：50kg

 

 

• TypeL-Ⅱ

 

・本体寸法：　W400 × L400 × H358 [mm] ※付属機器は除く・重量：25kg

 

 

• ポータブル TypeL-P

 

・本体寸法：　W125 × L210 × H115 [mm] ※付属機器は除く・重量：約3kg

 

＊予告なく掲載内容を変更する場合がございます